• صفحه اصلی
  • جستجوی پیشرفته
  • فهرست کتابخانه ها
  • درباره پایگاه
  • ارتباط با ما
  • تاریخچه
تعداد ۳ پاسخ غیر تکراری از ۳ پاسخ تکراری در مدت زمان ۱,۱۳ ثانیه یافت شد.

1. Accelerating test, validation and debug of high speed serial interface

  • اطلاعات استناد دهی
  • BibTex
  • RIS
  • Endnote
  • Refer

پدیدآورنده: / Yongquan Fan, Zeljko Zilic

کتابخانه: كتابخانه مركزی و مركز اسناد دانشگاه شهيد چمران (خوزستان)

موضوع: Interface circuits--Testing,Very high speed integrated circuits--Testing

رده :
TK
,
7868
,.
I58
,
F36
,
2011

2. Accelerating test, validation and debug of high speed serial interfaces

  • اطلاعات استناد دهی
  • BibTex
  • RIS
  • Endnote
  • Refer

پدیدآورنده:

کتابخانه: كتابخانه مركزی و مركز اسناد دانشگاه مازندران (مازندران)

موضوع: Interface circuits ; Testing. ; Very high speed integrated circuits ; Testing. ;

رده :

3. Accelerating test, validation and debug of high speed serial interfaces

  • اطلاعات استناد دهی
  • BibTex
  • RIS
  • Endnote
  • Refer

پدیدآورنده: Fan, Yongquan.,Yongquan Fan, Zeljko Zilic

کتابخانه: كتابخانه و مركز اسناد دانشگاه كردستان (کردستان)

موضوع: ، Interface circuits, Testing,، Very high speed integrated circuits, Testing

رده :
  • »
  • 1
  • «

پیشنهاد / گزارش اشکال

اخطار! اطلاعات را با دقت وارد کنید
ارسال انصراف
این پایگاه با مشارکت موسسه علمی - فرهنگی دارالحدیث و مرکز تحقیقات کامپیوتری علوم اسلامی (نور) اداره می شود
مسئولیت صحت اطلاعات بر عهده کتابخانه ها و حقوق معنوی اطلاعات نیز متعلق به آنها است
برترین جستجوگر - پنجمین جشنواره رسانه های دیجیتال